在不损坏测试材料的前提下, TELOPS最新的TESTD系列无损检测系统能为材料、部件或装配零件提供缺陷检测。
本产品有三大优势, 功能强大且速度惊人的红外相机与闪光灯或卤素灯（可提供其他激励源）以及用户友好的后处理软件, 三者相结合，为寻求确保材料质量和均匀性的各行各业, TELOPS提供一个完整的非接触式、无损测试系统。
因为 Telops 的超高帧频，TESTD 系统可以检测腐蚀、分层、衰变、空隙、杂质和其他的内在缺陷， 无损检测甚至可以在非常薄或导电性很强的材料上进行，而众所周知, 通常这样的材料是难以检测的。
Telops的Fast-IR系列红外相机是市场上最快的红外相机。不仅具有令人印象深刻的时间分辨率，同时也具有非常高的灵敏度，能够探测具有挑战性的目标。
主动热成像技术测量能够发现热波中由隐藏缺陷所产生的干扰。热流是由光脉冲或周期调制产生的。一旦进行红外测量，测试人员使用算法处理来获取检测缺陷所产生信息。
TESTD-PT (left). TESTD-LockT (right).
